تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۶۲ ثانیه یافت شد.

1. Neural models and algorithms for digital testing

پدیدآورنده : by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell

موضوع : Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها